Az ICS-CERT bejelentése szerint amerikai egyetemi kutatók egy csoportja (Timothy Trippel, Ofir Weisse, Peter Honeyman és Kevin Fu a University of Michigan-ről és Wenyuan Xu a University of South Carolina-ról) egy hardver-tervezési hiba okozta sérülékenységet találtak számos, MEMS gyorsulásmérő…